[email protected]
+38 (057) 788-42-24
Електронний каталог
dKHAIIR
Про бібліотеку
Бібліотека сьогодні
Історія бібліотеки
Структура бібліотеки. Графік роботи.
Положення про науково-технічну бібліотеку
Правила користування НТБ
Ресурси
Інформаційно-бібліографічні ресурси
Бібліографічні видання
Тематичні книжково-ілюстративні виставки
Віртуальні виставки
Нові надходження
Онлайн-ресурси локального доступу
Онлайн-ресурсы вільного доступу
Списки публікацій співробітників НТБ
Швидкий пошук
Студенту
Оформлення списку літератури
Основи інформаційної культури
Соціокультурна діяльність
Галерея
Архів подій
Випускники ХАІ
Наука
Бібліометричні профілі співробітників Університету
Нормативно-правова база
Оформлення дисертацій і авторефератів
Наукометрична діяльність
Створення авторського профілю
Технічні звіти з НДДКР
До уваги науковців
Послуги
Електронна доставка документів
Віртуальна довідка
Ваш формуляр
Усі послуги
Головна
→
Електронний каталог
→
Пошук по електронному каталогу
→
Опис документа
Форма пошуку
Назад
укр
рус
eng
Cписок
Бут А.В.
Вплив сукупностей двовимірних дефектів структури на структуру фотовідклику кристалів ZnSe та ZnSe: X(X=Te, Cu, Mg)
Вид документа:
Стаття періодики
Автор:
Бут А.В.
Вид автора:
персона
Мова:
Українська
Обсяг:
С. 143-148
УДК:
621.383.52
Аннотацiя:
Шляхом прямого та зворотного дискретного вейвлет-аналізу зображень травлених поверхонь {111} кристалів ZnSe:X (X=Te, Cu, Mg) та ZnSe виявлено різномасштабні угрупування дефектів структури, що формують структуру динамічного фотовідклику при комбінованому фотоелектрозбудженні. В рамках ентропійного підходу показана ефективність представлення кінетики фотоструму I(t) в виді сигнатури I(t) - dI/dt фазового простору. При цьому представлення площі сигнатури I(t) - dI/dt в виді множини дозволених фотоіндукованих динамічних станів дозволило провести декомпозицію кінетики фотоструму I(t) на складові, визначити їх парціальні вклади, ступінь взаємозв'язку та запропонувати інтегративний показник збалансованості фотоіндукованих станів. В результаті виявлено безпосередній зв'язок складного НДС зразків з особливостями динамічної структури їх фотовідклику, що може бути використано для вирішення ряду взаємозв'язаних технологічних, діагностичний і експлуатаційних проблем сенсорних кристалів ZnSe:X (X=Te, Cu, Mg) і Z
Переглянути електронну копію
Є складовою частиною документа:
Радіоелектронні і комп'ютерні системи
Відомості щодо назви
Відомості про відповідальність
:
Нац. аерокосм. ун-т. ім. М.Є.Жуковського "ХАІ"
Відомості щодо головного
Назва головного документа
:
Радіоелектронні і комп'ютерні системи
Дата видання головного документа
:
2010
Номер частини головного документа
:
4
Загальна інформація
Бібліографія
:
Бібліогр.: 11 назв
Теми документа:
Праці співробітників ХАІ/Труды сотрудников ХАИ/Works of KHAI employees/ Праці співробітників ХАІ/Труды сотрудников ХАИ
Праці співробітників ХАІ/Труды сотрудников ХАИ/Works of KHAI employees/ Праці співробітників ХАІ/Труды сотрудников ХАИ/ Б/ Бут А.В.
УДК/UDC/ 6 Прикладні науки. Медицина. Технологія/Прикладные науки. Медицина. Технология/ Applied Sciences. Medicine. Technology/ 62 Машинобудування. Техніка в цілому/Инженерное дело. Техника в целом/Engineering. Technology in general/ 621 Загальне машинобудування. Ядерна техніка. Електротехнiка. Машинобудування/Общее машиностроение. Ядерная техника. Электротехника. Технология машиностроения/Mechanical engineering in general. Nuclear technology. Electrical engin/ 621.3 Електрика. Електротехніка.Технічна електродинаміка/Электротехника/Electrical engineering/ 621.38 Електронiка. Електронні лампи. Фотоелектроніка. Рентгенотехніка. Прискорювачі елементарних частинок/Электроника. Фотоэлектроника. Электронные лампы. Трубки. Рентгенотехника. Ускорители частиц/Electronics. Photoelectronics./ 621.383 Фотоелектричні лампи та елементи. Фотоелектроніка/Фотоэлектрические лампы и элементы. Фотоэлектроника/Photoelectronics/ 621.383.5 Фотоприймачі із запірним шаром (з p- n переходом)/Фотоприемники с запирающим слоем/Photodetectors with the locking layer
Задати питання
Ми обробляємо онлайн заявки в першу чергу. Довідка обробляється протягом 3 днів (в зависмости від складності запиту).
Ім'я
*
Прізвище
*
По батькові
Номер читацького квитка (ХАІ)
E-mail
*
Місто
Категорія користувача
Студент
Викладач
Науковий співробітник
Аспірант
Співробітник університету
Учень ліцею
Розділ
*
Авіація і космонавтика
Астрономія
Аеродинаміка
Бухгалтерія
Військова техніка
Географія
Двигуни. Силові установки
Деталі машин
Мистецтво
Історія
Комп'ютерна технологія
Космонавтика. Ракетна техніка
Культурологія
Логіка
Маркетинг
Математика
Машинобудування
Освіта. Виховання. Навчання
Пневмоенергетіка. Холодильна техніка
Право. Юридичні науки
Психологія
Релігія. Теологія
Соціологія
Стандартизація та стандарти
Теплодинаміка
Технологія механічної обробки матеріалів
Управління підприємствами. менеджмент
Фізика
Філософія
Фінанси
Хімія
Економіка. Економічні науки
Електротехніка
Етика
Мовознавство
Екологія
Загальні питання
Ракетна техніка й озброєння
Телекомунікації. Зв'язок. Радіотехніка
інше
Кібернетика. Автоматика
Питання
*
Замовити частина документа (книгу)
Ми обробляємо онлайн заявки в першу чергу. Довідка обробляється протягом тижня (в зависмости від складності запиту).
Відомості про замовника
Ім'я
*
Прізвище
*
По батькові
Номер читацького квитка (ХАІ)
E-mail
*
Місто
Відомості про книгу
Автор
*
Назва
*
Рік видання
*
Місце видання
*
Том
*
Сторінки
*
Замовити статтю з журналу / збірника
Ми обробляємо онлайн заявки в першу чергу. Довідка обробляється протягом тижня (в зависмости від складності запиту).
Відомості про замовника
Ім'я
*
Прізвище
*
По батькові
Номер читацького квитка (ХАІ)
E-mail
*
Місто
Відомості про статтю з журналу / збірника
Название журнала/сборника
*
Автор
*
Назва статті
*
Рік видання
*
Місце видання
*
Номер журналу / збірника
*
Сторінки
*