Електроний каталог - Науково-технічна бібліотека ім М.Є. Жуковського ХАІ

Cписок

Бут А.В., Мигаль В.П., Фомин А.С.
Локальная неустойчивость диэлектрического отклика кристаллов CdZnTe

Вид документа: Складова частина документа
Автор: Бут А.В., Мигаль В.П., Фомин А.С. Вид автора: персона
Мова: Російська Обсяг: С. 159-165
УДК: 548:621.315.61

Аннотацiя:

В работе показано, что диаграммы , по-строенные на основе спектральных зависимостей реальной и мнимой частей ком-плексной диэлектрической проницаемости, отличаются площадью, числом дуго-образных участков и числом спектрально нестабильных участков. Анализ измене-ний их вида в процессе эксплуатации фотоприемников на основе кристаллов CdZnTe позволяет осуществлять контроль обратимых и необратимых изменений функциональных характеристик сенсоров, так как диаграммы дают возможность: а) четко определять спектральные границы неустойчивости диэлектрического отклика; б) количественно оценивать скорость необратимых из-менений по соотношению площадей соответствующих петлеобразных участков диаграмм; в) выявлять индивидуальные особенности диэлектрического отклика.

Переглянути електронну копію

Є складовою частиною документа: Открытые информационные и компьютерные интегрированные технологии

Відомості щодо назви

Відомості про відповідальність:

Национальный аэрокосмический университет им. Н. Е. Жуковского "ХАИ", г.Харькоа, Украина

Відомості щодо головного

Вид автора головного документа:

Персона

Назва головного документа:

Открытые информационные и компьютерные интегрированные технологии

Місце видання головного документа:

Харьков

Видавник головного документа:

Нац. аэрокосмический ун-т "ХАИ"

Дата видання головного документа:

2007

Номер частини головного документа:

Вып. 36

Загальна інформація

Бібліографія:

11 назв

Теми документа: