| Аннотацiя: | Показано, что представление динамического фотоотклика полупроводниковых сенсоров в виде фазовых портретов позволяет выявить области их нестабильной работы. Предложенный подход дает возможность подбирать сенсорные элементы для конкретных условий эксплуатации, осуществлять мониторинг и прогнозировать их ресурс. |