Форма пошуку Назад
укр рус eng
 Cписок

Андриенко В.А., Рябцев В.Г., Уткина Т.Ю.
Архитектура встроенного многоверсионного самотестирования микросхем памяти

Вид документа: Стаття періодики
Автор: Андриенко В.А., Рябцев В.Г., Уткина Т.Ю. Вид автора: персона
Мова: Російська Обсяг: С. 53-57
УДК: 004.451.3

Аннотацiя:Рассматривается архитектура микросхемы памяти со встроенными средствами многоверсионного самотестирования. Показаны преимущества встроенного самотестирования над внешним автоматизированным тестовым оборудованием, которое является очень дорогим, что увеличивает стоимость микросхем на рынке. Предлагается архитектура встроенных средств, обеспечивающих оперативную смену программ самотестирования. Данная архитектура позволяет повысить качество микросхем памяти на этапе изготовления и повысить коэффициент технической готовности микросхем на этапе эксплуатации. Ключевые слова: встроенное самотестирование, микросхемы памяти, тесты семейства March.


Переглянути електронну копію

Є складовою частиною документа: Радіоелектронні і комп'ютерні системи

Відомості щодо головного
 Назва головного документа:Радіоелектронні і комп'ютерні системи
 Дата видання головного документа:2012
 Номер частини головного документа:6

Загальна інформація
 Бібліографія:6 назв

Теми документа: