| Аннотацiя: | Рассмотрен вопрос оптимизации обработки изображений при неразрушающем контроле микроэлектронной аппаратуры с помощью покрытий различного типа. Разработанный алгоритм построения упорядоченного множества возможных преобразованных описаний исходного изображения обьекта контроля может найти применение везде, где требуется осуществить преобразование изображений для машинной обработки информации. |