Складові частини документа:

• Яремчук А.Ф. Контроль качества кремниевых слитков методом спада фотопроводимости. - . - ,
• Белов А.Н., Гаврилин И.М., Гаврилов С.А., Дронов А.А. Особенности морфологии пленок оксида титана, полученных вытягиванием кремниевых подложек из раствора. - . - ,
• Беклемишев Д.Н., Переверзев А.Л., Твердунов Д.В. Однокристальный вычислитель для беспилотного летательного аппарата. - . - ,
• Дмитриев А.Н., Чередниченко Д.И. Формирование слоев графена сублимацией карбида кремния в вакууме сканирующим источником тепла. - . - ,
• Широ Е.Г., Широ Г.Э. Метод снижения спекл-шума в радиолокационных изображениях. - . - ,
• Орда-Жигулина М.В., Алексеев Ю.И. Амплитудно-частотное преобразование при СВЧ-модуляции инжекционных полупроводниковых лазеров. - . - ,
• Матюшкин И.В., Хамухин А.В. Применение языка UML при проектировании машин клеточных автоматов. - . - ,
• Алексеев А.М., Комков В.Н., Краснобородько С.Ю., Шубин А.Б. Особенности методики трехпроходных измерений в магнитной силовой микроскопии. - . - ,
• Гончаров В.А., Балдина Н.А., Дорошенко Е.С., Подкопаев И.В. Численное моделирование процесса кристаллизации полупроводников с использованием параллельных вычислений. - . - ,
• Галалу В.Г. Оценка достижимой разрядностибазовой схемы преобразователя код-напряжение для гибридного исполнения. - . - ,