| Аннотацiя: | Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, основанный на результатах измерения сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей.
Ключевые слова: тонкопленочные платы, инструментальные погрешности, метод оценки качества, сопротивления резисторов. |