Cписок

Вопилкин А.Х.
Ультразвуковая голографическая дефектометрия вчера сегодня, завтра

Вид документа: Стаття періодики
Автор: Вопилкин А.Х. Вид автора: персона
Мова: Російська Обсяг: С. 37-47
УДК: 620.179.16

Аннотацiя:

В статье представлен опыт разработок и широкого применения голографических систем, накопленный за годы существования компании "ЭХО+".

Є складовою частиною документа: Контроль.Диагностика

Відомості щодо назви

Відомості про відповідальність:

НПЦ "ЭХО+", г.Москва, Россия

Відомості щодо головного

Назва головного документа:

Контроль.Диагностика

Дата видання головного документа:

2009

Номер частини головного документа:

Загальна інформація

Бібліографія:

10 назв

Теми документа:

УДК/UDC/ 6 Прикладні науки. Медицина. Технологія/Прикладные науки. Медицина. Технология/ Applied Sciences. Medicine. Technology/ 62 Машинобудування. Техніка в цілому/Инженерное дело. Техника в целом/Engineering. Technology in general/ 620 Випробування матерiалiв. Матеріали промислового значення. Електростанції. Економіка енергетики/Испытания материалов. Товароведение. Силовые станции. Общая энергетика/Materials testing. Commercial materials. Power stations/ 620.1 Випробування матеріалів. Пошкодження матеріалів. Захист матеріалів/Испытания материалов. Дефекты материалов. Защита материалов/Tests of materials. Defects of materials. Protection of materials/ 620.17 Вимірювання механічних властивостей матеріалів. Опір матеріалів/Испытания механических свойств материалов. Механические испытания/Tests of mechanical properties of materials. Mechanical tests/ 620.179 Випробування без руйнування зразка. Інші види випробувань/Методы испытаний материалов без разрушения. Прочие методы испытаний/Test methods of materials without destruction. Other test methods/ 620.179.1 Випробування без руйнування зразка. Виявлення тріщин, розривів та інших дефектів/Методы испытаний без разрушения. Дефектоскопия/Test methods without destruction. Defectoscopy/ 620.179.16 Ультразвукові випробування/Метод испытания (контроля) ультразвуком/Ultrasonic tests