Cписок

Решенкин А.С.
Стохастическое моделирование эмиссионных характеристик магнитного шума

Вид документа: Стаття періодики
Автор: Решенкин А.С. Вид автора: персона
Мова: Російська Обсяг: С. 74-76
УДК: 620.179.14

Аннотацiя:

Рассмотрено построение стохастической математической модели взаимодействия плоской доменной стенки с дислокационным моделем раастяжения в стали, позволяющей рассчитывать эмиссионные характеристики магнитного шума.

Є складовою частиною документа: Контроль.Диагностика

Відомості щодо назви

Відомості про відповідальність:

Ростовский военный институт ракетных войск им.М.И.Неделина, Ростов -на-Дону

Відомості щодо головного

Назва головного документа:

Контроль.Диагностика

Дата видання головного документа:

2007

Номер частини головного документа:

Загальна інформація

Бібліографія:

11 назв

Теми документа:

УДК/UDC/ 6 Прикладні науки. Медицина. Технологія/Прикладные науки. Медицина. Технология/ Applied Sciences. Medicine. Technology/ 62 Машинобудування. Техніка в цілому/Инженерное дело. Техника в целом/Engineering. Technology in general/ 620 Випробування матерiалiв. Матеріали промислового значення. Електростанції. Економіка енергетики/Испытания материалов. Товароведение. Силовые станции. Общая энергетика/Materials testing. Commercial materials. Power stations/ 620.1 Випробування матеріалів. Пошкодження матеріалів. Захист матеріалів/Испытания материалов. Дефекты материалов. Защита материалов/Tests of materials. Defects of materials. Protection of materials/ 620.17 Вимірювання механічних властивостей матеріалів. Опір матеріалів/Испытания механических свойств материалов. Механические испытания/Tests of mechanical properties of materials. Mechanical tests/ 620.179 Випробування без руйнування зразка. Інші види випробувань/Методы испытаний материалов без разрушения. Прочие методы испытаний/Test methods of materials without destruction. Other test methods/ 620.179.1 Випробування без руйнування зразка. Виявлення тріщин, розривів та інших дефектів/Методы испытаний без разрушения. Дефектоскопия/Test methods without destruction. Defectoscopy