Форма пошуку Назад
укр рус eng
 Cписок

Сысоев Е.В.
Метод частичного сканирования коррелограмм для измерения микрорельефа поверхностей

Вид документа: Стаття періодики
Автор: Сысоев Е.В. Вид автора: персона
Мова: Російська Обсяг: С. 107-115
УДК: 55.411

Аннотацiя:Представлен метод измерения микропрофиля поверхности с нанометровым расширением, основанный на неполном сканировании коррелограмм в интерферометре

Є складовою частиною документа: Автометрия

Відомості щодо головного
 Назва головного документа:Автометрия
 Дата видання головного документа:2007
 Номер частини головного документа:1

Загальна інформація
 Бібліографія:10 назв.

Теми документа: