Аннотацiя: | Предложена методика неразрушающего контроля качества полупроводиковых фотоэлектрических элементов и модулей, основанная на измерении распределения потенциала электрического поля подложки и активных слоев солнечных элементов на каждом этапе их изготовления с помощью бесконтактног емкостного зонда. |